PCT高壓老化試驗箱
更新時間：2023-10-19
艾思荔PCT高壓老化試驗箱的目的是提高環(huán)境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等），加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
溫馨提示： 艾思荔PCT高壓老化試驗箱的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的磨耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
高壓老化試驗箱產(chǎn)品規(guī)格： 溫度范圍：+105.0℃~+142.9℃ 濕度范圍：75%~RH 溫濕度穩(wěn)定度：±0.5℃、±3℃RH 溫度分布均度：±1℃ 壓力范圍：0.2~2.0kg/cm2G（選配0.2~4.0kg/cm2G） 升溫時間：室溫上升140℃需約120分鐘 內箱尺寸：￠45×45/￠65×60 材質：內外不銹鋼板 電源：1￠220V60HZ/380V50HZ20A
高壓老化試驗箱產(chǎn)品特點： 1、圓形橫置式內槽結構設計方便使用者取置待測品 2、馬達驅動磁性風扇機構循環(huán)（溫度/濕度分布均勻佳） 3、安全程序自動停機,自動泄壓,自動破真空,自動給水 4、HAST設備本體材質SUS#316,外部包裝材質SUS#304 5、電磁風扇馬達循環(huán)裝置濕度分布均勻 6、飽和或不飽和可程控模式 7、溫度/濕度/濕球/溫度/壓力/電壓顯示
PCT高壓老化試驗箱詳細說明 隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（電工委員會）所標準化。 我們艾思荔不斷的在努力，致力于跨越環(huán)境檢測儀器領域新高度，恪守“服務只有起點，滿意沒有終點"的經(jīng)營綜旨全心全意為打造性價比高的設備而不斷進取。
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