PCT試驗(yàn)箱 高壓加速老化
更新時(shí)間：2024-12-10
PCT試驗(yàn)箱 高壓加速老化測(cè)試其制品的耐厭性，氣密性。測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染造成短路等。
溫馨提示：
PCT試驗(yàn)箱 高壓加速老化用途： PCT試驗(yàn)箱又稱高壓加速老化試驗(yàn)箱，適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。 測(cè)試其制品的耐厭性，氣密性。測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間、 試樣限制本試驗(yàn)設(shè)備禁止：易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。
PCT試驗(yàn)箱的特點(diǎn)： 1、計(jì)時(shí)安裝，LED數(shù)字型計(jì)時(shí)器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度達(dá)到后計(jì)時(shí)器確保試驗(yàn)*，計(jì)時(shí)從表格1驅(qū)動(dòng)。 2、Jing準(zhǔn)的壓力，溫度表隨時(shí)顯示鍋內(nèi)壓力與溫度，Jing準(zhǔn)壓力+0、2~2、0kg/cm2、 6、試驗(yàn)開始前使用真空泵抽真空，將機(jī)器原來的空氣抽出并過濾與至新鮮空氣一切完整開始試機(jī)。 4、箱內(nèi)經(jīng)過拋光處理經(jīng)久耐用、美觀、不沾污。 5、運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水自動(dòng)排出未飽和蒸汽已達(dá)到飽和。 6、異常原因及故障指示燈顯示，設(shè)置自動(dòng)保護(hù)LIMIT安全。
PCT試驗(yàn)箱 高壓加速老化性能： 1、測(cè)試環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、 2、 溫度范圍 105℃ → +132℃、 (控制點(diǎn)) 3、 溫度波動(dòng)度 ±0、5℃、 4、 溫度偏差 ±2、0℃、 5、 濕度范圍 75% ～ 100 %R、H 、 (控制點(diǎn)) 6、 濕度波動(dòng)度 ±2、5 %R、H、 7、 濕度均勻度 ±5、0%、 8、 壓力范圍 0、5～2㎏/㎝2 (0、05～0、196 MPa) (控制點(diǎn)) 9、 升溫時(shí)間 常溫 → + 132℃ 35 min 、 10、 升壓時(shí)間 常壓 → + 2㎏/㎝2 40 min
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